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891.
采用粒子网格方法对同轴微阴极电弧推力器μCAT工作过程进行了模拟研究, 并应用自相似方法对模型进行简化,获得了推力器羽流区的电子数密度分布、离子数密度分布、电势分布及离子轴向平均速度,通过改变磁感应强度和位形分析磁场对推力器内等离子体运动特性及推力器性能的影响。计算结果表明,电子被外加磁场捕获约束在磁力线附近,低速离子与高速电子形成的双极扩散电场加速离子喷出;在相同流量情况下,磁感应强度002T时,离子返流严重,磁感应强度005~030T时,磁感应强度变化对速度影响较小;磁场位形对离子运动和推力器性能有较大影响,磁力线与轴线夹角较小时离子速度下降明显,夹角较大时离子返流严重。  相似文献   
892.
针对无源互调干扰信号的时变性和间断性特点,提出了利用低密度奇偶校验(LowDensityParityCheck,LDPC)码抗突发差错的特性来减弱无源互调干扰影响的方法。文章设计了LDPC编译码方案,采用了基于准循环矩阵的编码方案,并着重分析了译码环节,译码算法最终选定具有低迭代时延特点的基于行信息传递(RowMessagePassing,RMP)调度的最小和译码算法。译码仿真结果显示,用占空比为10%的脉冲模拟无源互调干扰,信噪比为3.1dB时,编码增益约为8.2dB。实测结果显示,信干比为2dB时,带有LDPC编码的系统误码率为0.00269,信干比增益超过10dB。  相似文献   
893.
K-均值聚类在CCERT系统流型辨识中的应用   总被引:1,自引:1,他引:0  
流型是气水两相流的重要参数之一,对气水两相流的流动影响很大。基于电容耦合电阻层析成像(CCERT)系统,以水平管道气水两相流流型为研究对象,利用主成分分析(PCA)方法提取不同流型下采集到的电导率信息的主成分,消除不同电极对之间信号的冗余,进而结合K-均值聚类算法实现流型辨识。实验结果表明,该方法具有较高准确度,对于水平管道泡状流、层状流和环状流3种典型的气水两相流流型的静态辨识准确率可以分别达到97%、96%和99%,动态辨识准确率可以分别达到92%、90%和87%。  相似文献   
894.
重点探讨一种基于功率谱密度的车削质量控制方法,与目前较为成功的基于粗糙度的车削质量控制方法相比,它能充分利用实际轮廓的全部实测数据并将车削过程各要素对功率谱密度的影响明显地区分开。初步研究表明,该方法是一个很有前途的车削质量控制方法。  相似文献   
895.
Neumann 随机有限元法计算涡轮叶片的可靠度   总被引:4,自引:1,他引:3       下载免费PDF全文
推导了具有随机性时Neumann随机有限元法的基本方程,用级数来拟合结构响应的概率密度函数,并通过数值积分计算结构的可靠度。对涡轮叶片的可靠度分析表明,该方法可利用较小的样本容量获得较高的计算精度,并具有较高的计算效率。  相似文献   
896.
本文利用电离层电子密度的理论计算模式,研究了一氧化氮对中、低纬度100-200km间电子密度的影响,发现电子密度与一氧化氮密度间存在着正、负相关。正相关,只有当这一光电离成为一氧化氮离子的主要生成源时才出现。   相似文献   
897.
刘军华 《航空学报》1994,15(4):458-461
采用粉末装管加工技术(Powder-in-tubetechnique)制备出了BiPbSrCaCuO/Ag复合超导带材。研究了热处理对带材微观结构和临界电流密度(J_c)的影响。试验表明,合理的热处理温度范围为840~850℃,冷却速率为50~100℃/h。  相似文献   
898.
对约束开裂复合材料层板给出随裂纹密度变化的刚度衰减公式。构造了裂纹密度与损伤区应力的关系函数,借助这一函数可由损伤区应力直接预测其刚度衰减。引入两次转轴变换方法,将刚度衰减公式由90°基体开裂推广到应用于±θ层的基体开裂。  相似文献   
899.
姬婉华  罗子健 《航空学报》1992,13(6):348-351
通过精密测量相对密度化建立韧性损伤模型,以预测金属塑性加工过程中韧性损伤演化规律和产品质量。本文研究了精密测量微小密度的变化、介绍了测量方法和装置。通过测量相对密度变化对拉伸和扭转过程中韧性损伤演化规律进行了研究。  相似文献   
900.
利用光化平衡模式计算了低纬100—200km间白天电子数密度的变化。求得E-F1谷区的谷深,谷宽、谷高的变化特征。获得如下结果:a.太阳活动明显影响电子数密度随高度及太阳天顶角的变化,发现太阳活动指数与电子数密度间不仅存在正相关,而且存在负相关;b.太阳活动明显影响E-F1谷区的形态。在一定太阳活动条件下,对同一太阳赤纬和地理纬度,谷深、谷宽与太阳天顶角的关系难以用一简单函数来表示;c.太阳耀斑、地磁活动对该区电子密度有明显影响;d.在讨论100—200km间电子密度时不能忽略O+(2P)和NO的光电离率。   相似文献   
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